发明名称 蚀刻方法及使用其之光/电子装置之制造方法
摘要 本发明系提供利用比较简单的制程,即使对例如III-V族氮化物半导体般之较难蚀刻的半导体层,仍可容易且精度佳地施行蚀刻之蚀刻方法。该蚀刻方法系包括有:在基体(1、2)表面上,形成金属氟化物层3作为蚀刻遮罩之至少一部分的步骤;将上述金属氟化物层施行液体处理的步骤;以及将上述金属氟化物层作为遮罩,对上述基体施行蚀刻的步骤。
申请公布号 TW200933727 申请公布日期 2009.08.01
申请号 TW097141999 申请日期 2008.10.31
申请人 三菱化学股份有限公司 发明人 堀江秀善;深田崇
分类号 H01L21/306(2006.01);H01L33/00(2006.01) 主分类号 H01L21/306(2006.01)
代理机构 代理人 赖经臣;宿希成
主权项
地址 日本