发明名称 光刻装置和使用光刻模拟技术优化照明光源的方法
摘要 一种用于利用计算机模拟技术优化光刻装置的照明条件的方法,所述光刻装置包括一个照明器和一个投影系统,所述方法包括:确定要印刷在基底上的光刻图案;选择模拟模型;选择照明器的光瞳平面中的一格栅的源点;计算个别源点的单独响应,每个响应表示一个或一系列使用模拟模型的模拟结果:以及在单独计算值累计结果的分析基础上调节照度分布。其中选择模拟模型的步骤包括,选择一种用于在基底上印制图案的抗蚀方法,并选择一个抗蚀模型,所述抗蚀模型是能预测实验结果的标准模型。本发明还提供一种执行上述方法的光刻投影装置、具有机械可执行命令编码的机械可读媒介、以及设备的制造方法。
申请公布号 CN100520583C 申请公布日期 2009.07.29
申请号 CN200410035272.1 申请日期 2004.02.11
申请人 ASML荷兰有限公司 发明人 S·G·汉森
分类号 G03F7/20(2006.01)I 主分类号 G03F7/20(2006.01)I
代理机构 中科专利商标代理有限责任公司 代理人 王波波
主权项 1. 一种用于利用计算机模拟技术优化光刻装置的照明条件的方法,所述光刻装置包括一个照明器和一个投影系统,所述方法包括:确定要印刷在基底上的光刻图案;选择模拟模型;选择照明器的光瞳平面中的一格栅的源点;计算个别源点的单独响应,每个响应表示一个或一系列使用模拟模型的模拟结果:以及在单独计算值累计结果的分析基础上调节照度分布,其中选择模拟模型的步骤包括,选择一种用于在基底上印制图案的抗蚀方法,并选择一个抗蚀模型,所述抗蚀模型是能预测实验结果的标准模型。
地址 荷兰维尔德霍芬