发明名称 | 光刻装置和使用光刻模拟技术优化照明光源的方法 | ||
摘要 | 一种用于利用计算机模拟技术优化光刻装置的照明条件的方法,所述光刻装置包括一个照明器和一个投影系统,所述方法包括:确定要印刷在基底上的光刻图案;选择模拟模型;选择照明器的光瞳平面中的一格栅的源点;计算个别源点的单独响应,每个响应表示一个或一系列使用模拟模型的模拟结果:以及在单独计算值累计结果的分析基础上调节照度分布。其中选择模拟模型的步骤包括,选择一种用于在基底上印制图案的抗蚀方法,并选择一个抗蚀模型,所述抗蚀模型是能预测实验结果的标准模型。本发明还提供一种执行上述方法的光刻投影装置、具有机械可执行命令编码的机械可读媒介、以及设备的制造方法。 | ||
申请公布号 | CN100520583C | 申请公布日期 | 2009.07.29 |
申请号 | CN200410035272.1 | 申请日期 | 2004.02.11 |
申请人 | ASML荷兰有限公司 | 发明人 | S·G·汉森 |
分类号 | G03F7/20(2006.01)I | 主分类号 | G03F7/20(2006.01)I |
代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 王波波 |
主权项 | 1. 一种用于利用计算机模拟技术优化光刻装置的照明条件的方法,所述光刻装置包括一个照明器和一个投影系统,所述方法包括:确定要印刷在基底上的光刻图案;选择模拟模型;选择照明器的光瞳平面中的一格栅的源点;计算个别源点的单独响应,每个响应表示一个或一系列使用模拟模型的模拟结果:以及在单独计算值累计结果的分析基础上调节照度分布,其中选择模拟模型的步骤包括,选择一种用于在基底上印制图案的抗蚀方法,并选择一个抗蚀模型,所述抗蚀模型是能预测实验结果的标准模型。 | ||
地址 | 荷兰维尔德霍芬 |