| 摘要 |
本发明之目的在于提供一种积体电路测试器，能维持测试头之泛用性，且能将类比测试模组设置在测试头。本发明系一种积体电路测试器，将类比测试模组装载于测试头内部，并测试受测对象，特征在于，类比测试模组包含：主要基板；第1次要基板，进行类比测试，以连接器连接于此主要基板之前后，具有：第1类比电路，设置于前半区域之两面；及第1数位电路，设置于后半区域之两面，与第1类比电路电连接；第2次要基板，进行类比测试，位于第1次要基板相关于主要基板之相反侧，前后以连接器连接于主要基板，具有：第2类比电路，设置于前半区域之两面；及第2数位电路，设置于后半区域之两面，与第2类比电路电连接。 |
