发明名称 假闸极全环绕矽覆绝缘装置及其制作方法
摘要 本发明系关于一种假闸极全环绕矽覆绝缘装置及其制作方法。该半导体装置之一下闸极介电层形成于一基板上,且一导电半导体层形成于该下闸极介电层之上。该具导电之半导体层具有一本体、一源极及一汲极,并且,该半导体装置之一上闸极及一下闸极连结于同一电极,使得该半导体装置之该上闸极及该下闸极环绕于本体之上方、下方及二侧,形成一近乎全环绕式闸极之结构。藉此,克服上闸极与下闸极间之耦合电容问题,故该半导体装置具有且较传统矽覆绝缘金属氧化物半导体元件(SOI MOSFET)或鳍式场效电晶体(Fin FET)较大的电流驱动和次临界转换特性。
申请公布号 TW200919587 申请公布日期 2009.05.01
申请号 TW096140477 申请日期 2007.10.26
申请人 国立中山大学 发明人 林吉聪;黄国栋;陈鹤庭
分类号 H01L21/336(2006.01);H01L21/76(2006.01) 主分类号 H01L21/336(2006.01)
代理机构 代理人 蔡东贤
主权项
地址 高雄市西子湾莲海路70号