| 发明名称 | 短尾读写头万向架组件测试夹具 | ||
| 摘要 | 公开了一种用于测试读/写头在HGA级上的动态电性能的方法和系统。头万向架组件(HGA)测试系统具有保持硬盘的旋转台和通过HGA发送测试信号的测试器。该测试器通过前置放大器板发送其信号。应用探针卡将该前置放大器板连接到HGA。一个或多个弹簧针的组将前置放大器板连接到探针卡。该探针卡的探针可以在距离弹簧针预定的节距处。 | ||
| 申请公布号 | CN100480953C | 申请公布日期 | 2009.04.22 |
| 申请号 | CN200580046239.1 | 申请日期 | 2005.01.10 |
| 申请人 | 新科实业有限公司 | 发明人 | Y·赵;S·黄 |
| 分类号 | G06F1/16(2006.01)I | 主分类号 | G06F1/16(2006.01)I |
| 代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 张雪梅;张志醒 |
| 主权项 | 1. 一种测试探针卡，包括：一个或多个接合垫的组，被一个或多个弹簧针的组电耦合于前置放大器；一个或多个探针的组，用于提供与头万向架组件的电接触；以及印刷电路板，将该一个或多个接合垫电耦合于该一个或多个探针。 | ||
| 地址 | 中国香港新界沙田香港科学园科技大道东六号新科中心 | ||