发明名称 防止存储器阵列产生位线干扰的方法
摘要 本发明公开了一种防止存储器阵列产生位线干扰的方法,所述的存储器阵列由数个包括栅极、源极、漏极的存储单元以阵列形式排列而成,每一行的存储单元的栅极均连接至一字线,每一列的存储单元的源极和漏极分别连接至一位线,且相邻两列存储单元之间共用一条位线,所述方法当某一存储单元在接受编程时,若其它存储单元所连接的两条位线一条处于高电位、一条处于悬空状态或低电位时,则对该其它存储单元加载一栅极偏置电压。采用本发明的方法可防止非挥发性存储器阵列产生位线干扰,从而提高存储器件的性能。
申请公布号 CN101373636A 申请公布日期 2009.02.25
申请号 CN200710045043.1 申请日期 2007.08.20
申请人 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司 发明人 缪威权;陈良成;刘鉴常;蔡恩静;易晶晶;陈德艳
分类号 G11C16/10(2006.01) 主分类号 G11C16/10(2006.01)
代理机构 上海思微知识产权代理事务所 代理人 屈蘅
主权项 1.一种防止存储器阵列产生位线干扰的方法,所述的存储器阵列由数个包括栅极、源极、漏极的存储单元以阵列形式排列而成,每一行的存储单元的栅极均连接至一字线,每一列的存储单元的源极和漏极分别连接至一位线,且相邻两列存储单元之间共用一条位线,其特征在于:所述方法当某一存储单元在接受编程时,若其它存储单元所连接的两条位线一条处于高电位、一条处于悬空状态或低电位时,则对该其它存储单元加载一栅极偏置电压。
地址 201203上海市张江路18号