| 发明名称 | 可测试的集成电路及集成电路的测试方法 | ||
| 摘要 | 集成电路(200)包括通过一个或更多个开关(115)导电地耦合到电源线(110)的功能块(130)。该IC进一步包括在IC的测试模式中响应于测试启用信号以激活一个或更多个开关(115)的选择装置(220)，和诸如比较器(230)的评估装置，所述评估装置具有耦合到参考信号源(215)的第一输入和耦合到一个或更多开关(115)和功能块(130)之间的节点(225)的第二输入，用于基于参考信号和来自节点(225)的信号来评估一个或更多个开关(115)的行为。因此，本发明提供了一种用于测试功率开关的可测性设计解决方法。 | ||
| 申请公布号 | CN101365956A | 申请公布日期 | 2009.02.11 |
| 申请号 | CN200780002063.9 | 申请日期 | 2007.01.05 |
| 申请人 | NXP股份有限公司 | 发明人 | 桑迪普库马尔·戈埃尔;何塞德耶稣·皮内达德干维兹;伦泽·I·M·P·迈耶 |
| 分类号 | G01R31/317(2006.01);G01R31/3185(2006.01) | 主分类号 | G01R31/317(2006.01) |
| 代理机构 | 中科专利商标代理有限责任公司 | 代理人 | 朱进桂 |
| 主权项 | 1.一种集成电路(200，300，400，500，600)，包括：功能块(130)，通过开关装置(115，125)导电地耦合到电源线(110，120)；选择装置(140，220，420)，响应于测试启用信号以激活开关装置(115，125)；和评估装置(230)，具有耦合到参考信号源(215)的第一输入，并具有耦合到开关装置(115，125)和功能块(130)之间的节点(225)的第二输入，用于基于参考信号和来自所述节点(225)的信号来评估开关装置(115，125)的行为。 | ||
| 地址 | 荷兰艾恩德霍芬 | ||