发明名称 METHOD AND DEVICE FOR MICROSCOPICALLY EXAMINING A SAMPLE, COMPUTER PROGRAM, AND COMPUTER PROGRAM PRODUCT
摘要 <p>Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum mikroskopischen Untersuchen einer Probe, bei dem in einem Übersichtsmodus mit einem Mikroskop zunächst ein aus einer Vielzahl von Einzelbildern zusammengesetztes Übersichtsbild der Probe aufgenommen wird und bei dem anschließend ein Übergang in einen Detailmodus erfolgt, in welchem mit dem Mikroskop Detailbilder von interessierenden Bereichen der Probe aufgenommen werden. Das Verfahren ist dadurch gekennzeichnet, dass die Aufnahme des Übersichtsbilds im Übersichtsmodus mit einer im Vergleich zur Aufnahme der Detailbilder geringeren Auflösung der jeweils verwendeten Kamera erfolgt und dass das Übersichtbild und die Detailbilder mit demselben Mikroskopobjektiv aufgenommen werden. Die Erfindung betrifft außerdem eine Vorrichtung zum mikroskopischen Untersuchen einer Probe, ein Computerprogramm und ein Computerprogrammprodukt.</p>
申请公布号 WO2009010115(A1) 申请公布日期 2009.01.22
申请号 WO2008EP03966 申请日期 2008.05.16
申请人 CARL ZEISS IMAGING SOLUTIONS GMBH;VIERECK, FRIEDRICH, W.;KRUG, CHRISTOF 发明人 VIERECK, FRIEDRICH, W.;KRUG, CHRISTOF
分类号 G02B21/36 主分类号 G02B21/36
代理机构 代理人
主权项
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