| 发明名称 | 插座以及使用该插座的测试设备和方法 | ||
| 摘要 | 本发明公开了用于对测试对象的电学特性进行测试的设备和方法以及使用在所述装置中的插座。测试对象包括底部表面上的第一连接端子和顶部表面上的第二连接端子。所述设备包括：测试板，其在预定表面上包括第一焊盘；插座，构造为将测试对象电连接到测试板；和操纵器，构造为将测试对象输送到所述插座。所述插座包括构造为电连接到测试对象的第一连接端子的第一连接单元和构造为电连接到测试对象的第二连接端子的第二连接单元。 | ||
| 申请公布号 | CN101344571A | 申请公布日期 | 2009.01.14 |
| 申请号 | CN200810136114.3 | 申请日期 | 2008.07.09 |
| 申请人 | 三星电子株式会社 | 发明人 | 曹丙焕 |
| 分类号 | G01R31/26(2006.01);G01R1/04(2006.01);H01R33/76(2006.01) | 主分类号 | G01R31/26(2006.01) |
| 代理机构 | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人 | 陶凤波 |
| 主权项 | 1、一种用于对测试对象的电学特性进行测试的设备，该测试对象包括底部表面上的第一连接端子和顶部表面上的第二连接端子，该设备包括：测试板，其在预定表面上包括第一焊盘；插座，构造为将所述测试对象电连接到所述测试板；和操纵器，构造为将所述测试对象输送到所述插座，其中所述插座包括：第一连接单元，构造为电连接到所述测试对象的第一连接端子；和第二连接单元，构造为电连接到所述测试对象的第二连接端子。 | ||
| 地址 | 韩国京畿道 | ||