发明名称 |
记录和/或再现关于一次写入记录介质的数据的设备 |
摘要 |
一种将临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法,一种再现该临时缺陷列表的方法,一种用于记录和/或再现临时缺陷列表的设备,以及一次写入记录介质。将用于缺陷管理的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法包括:将当数据被记录在一次写入记录介质上时被创建的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质的至少一簇中,并且检验在该至少一簇中是否产生缺陷。随后,该方法包括:将原始记录在缺陷簇中的数据重新记录在另一簇中,并且将指示记录临时缺陷列表的该至少一簇的位置的指针信息记录在一次写入记录介质上。 |
申请公布号 |
CN101202090A |
申请公布日期 |
2008.06.18 |
申请号 |
CN200710167068.9 |
申请日期 |
2004.04.29 |
申请人 |
三星电子株式会社 |
发明人 |
黄盛凞;高祯完 |
分类号 |
G11B20/18(2006.01);G11B7/007(2006.01);G11B7/0037(2006.01) |
主分类号 |
G11B20/18(2006.01) |
代理机构 |
北京铭硕知识产权代理有限公司 |
代理人 |
郭鸿禧;韩素云 |
主权项 |
1.一种用于记录和/或再现关于一次写入记录介质的数据的设备,该设备包括:记录/读取单元,用于将数据记录在一次写入记录介质上或从一次写入记录介质再现数据;和控制单元,用于控制记录/读取单元将当数据被记录在一次写入记录介质上时创建的用于缺陷管理的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质的至少一簇中,检验在该至少一簇中是否产生缺陷,控制记录/读取单元将记录在缺陷簇中的数据记录在另一簇中,并且控制记录/读取单元将指示在其中记录临时缺陷列表的该至少一簇的位置的指针信息记录在一次写入记录介质上。 |
地址 |
韩国京畿道水原市灵通区梅滩洞416 |