发明名称 用于确定用于在光学记录载体上记录数据的写策略参数以及用于确定用于从光学记录载体读出数据的读参数的装置和方法
摘要 本发明涉及一种用于确定用于在光学记录载体(100)上记录数据的写策略参数的装置和相应方法以及一种用于确定用于从光学记录载体(100)读取数据的读参数的装置和相应方法。为了提供一种在实践中易于实施的、仅仅需要少量时间并且当写策略参数也被存储在驱动器的介质表中时也允许对盘确定光学写策略参数的改进的装置和方法,提出了用于确定写策略参数的装置,包括:初始化装置(110),用于设置初始写策略参数;-设置装置(120),用于基于所述初始写策略参数的变化来设置初始变量级别,用于优化所述写策略参数的实验方法的设计中;优化装置(130),用于利用实验方法的设计确定优化的写策略参数;以及-迭代装置(140),用于基于预定标准来检查由优化装置(130)所确定的优化的写策略参数是否将被进一步优化,以及在写策略参数将被进一步优化的情况下,用于确定新的变量级别和新的实验方案,用在进一步优化写策略参数的实验方法的设计的另一个迭代中。
申请公布号 CN101203910A 申请公布日期 2008.06.18
申请号 CN200680008188.8 申请日期 2006.03.09
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 T·P·范恩德特;E·范克萨利
分类号 G11B7/0045(2006.01) 主分类号 G11B7/0045(2006.01)
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 李静岚;刘红
主权项 1.用于确定用于在光学记录载体(100)上记录数据的写策略参数的装置,包括:-初始化装置(110),用于设置初始写策略参数,-设置装置(120),用于基于所述初始写策略参数的变化来设置初始变量级别和初始实验方案,用于优化所述写策略参数的实验方法的设计,-优化装置(130),用于利用实验方法的设计确定优化的写策略参数,以及-迭代装置(140),用于基于预定标准来检查由优化装置(130)所确定的优化的写策略参数是否将被进一步优化,在写策略参数将被进一步优化的情况下,用于确定在进一步优化所述写策略参数的实验方法的设计的另一个迭代中使用的新的变量级别和新的实验方案。
地址 荷兰艾恩德霍芬