发明名称 |
用于相变化随机存取记忆体之相同关键尺寸的孔洞 |
摘要 |
本发明系提供一种记忆体单元及其制造方法,其包含沉积于基材上的绝缘材料,形成于该绝缘材料中的下电极,沉积于该下电极上的复数个绝缘层,且该些绝缘层之至少其中之一系作为一中间绝缘层。于该些绝缘层中的中间绝缘层上定义出一介层窗。形成一通道,以利用牺牲间隙壁蚀刻。于中间绝缘层中,定义一孔洞。中间绝缘层上所有的绝缘层则被移除,且留下的孔洞则以相变化材料整个填满。一上电极则形成于相变化材料上。 |
申请公布号 |
TW200845154 |
申请公布日期 |
2008.11.16 |
申请号 |
TW097100423 |
申请日期 |
2008.01.04 |
申请人 |
万国商业机器公司;旺宏电子股份有限公司 |
发明人 |
龙翔澜;敛江宏;柏特威马修J;史罗德阿礼贞多格拜尔;乔瑟夫爱瑞克安德鲁;吉克罗杰维仁 |
分类号 |
H01L21/28(2006.01);H01L27/24(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/28(2006.01) |
代理机构 |
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代理人 |
蔡坤财;李世章 |
主权项 |
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地址 |
新竹市新竹科学工业园区力行路16号 |