发明名称 一种快速检测试条电极的制备方法
摘要 本发明提供了一种快速检测试条电极的制备方法,其采用表面平整、特性均一的玻璃、金属或塑料平板作基材1,将金属薄膜沉积在基材1上,再通过另一基材2上的图形化的胶粘剂将金属薄膜从基材1上转印下来,使金属薄膜转印到基材2的表面上形成电极,所述胶粘剂是先将胶粘剂涂覆或印刷在离型化处理的基材3的表面上,再转印到基材2的表面上。金属薄膜可沉积一薄层金、钯、铂等惰性贵金属层;也可先沉积一薄层金、钯、铂等惰性贵金属层,再在上面沉积较厚的铜、铝等一般金属层。本发明的制备方法可实现大规模制备,同时保证所得金属电极表面性质均一,图形均一,提高电极的制备效率,降低成本,使后续试条的制备更加高效,并在保证质量的基础上满足市场对数量的要求。
申请公布号 CN101303324A 申请公布日期 2008.11.12
申请号 CN200810116097.7 申请日期 2008.07.03
申请人 宗小林 发明人 宗小林;胡美函
分类号 G01N27/30(2006.01) 主分类号 G01N27/30(2006.01)
代理机构 北京宇生知识产权代理事务所 代理人 倪骏
主权项 1、一种快速检测试条电极的制备方法,其特征在于采用表面平整、特性均一的玻璃、金属或塑料平板作基材1,将金属薄膜沉积在基材1上,再通过另一基材2上的胶粘剂将金属薄膜从基材1上转印下来,使金属薄膜转印到基材2的表面上形成电极,所述胶粘剂是先将胶粘剂涂覆或印刷在离型化处理的基材3的表面上,再转印到基材2的表面上。
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