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发明名称
奈米压痕仪之试片载台辅助装置
摘要
本创作设计一奈米压痕仪之试片载台辅助装置,以解决奈米压痕试验时探针和试片的黏滞现象,有效提高实验准确性。当压痕试验进行中,于卸载开始时,试片载台辅助装置的超音波换能器产生高频脉波,驱动压电晶片,产生微小的超音波震动作用于载台,当探针开始卸载并脱离试片表面时,因为有微小的超音波震动而避免黏滞现象的发生,藉以量测精确的卸载曲线,而得到正确的试片弹性系数。另外,本辅助装置安装于载台上,并不影响压痕器力量控制和位移感测装置,任何机型皆可使用,为一有效且实用的创作。
申请公布号
TW200837340
申请公布日期
2008.09.16
申请号
TW096108686
申请日期
2007.03.14
申请人
张瑞庆;蔡发达
发明人
张瑞庆;蔡发达
分类号
G01N13/10(2006.01)
主分类号
G01N13/10(2006.01)
代理机构
代理人
主权项
地址
台北县淡水镇淡金路4段499号
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