发明名称 | 利用啁啾脉冲频谱测量太赫兹脉冲序列的方法和装置 | ||
摘要 | 一种利用啁啾脉冲频谱测量太赫兹脉冲序列的方法和装置,其装置包括超短脉冲光,在该超短脉冲光的前进方向有第一分束片和光栅对,所述的超短脉冲光经光栅对展宽为一线性啁啾脉冲光,在该啁啾脉冲光经第一分束片的反射光方向依次为起偏器和第二分束片,一待测的高速光脉冲序列从第二分束片的另一方向透射,在该待测的高速光脉冲序列的前进方向依次为第二分束片、非线性晶体、第三分束片、检偏器和第一CCD光谱仪,在第三分束片的反射方向经一反射镜进入第二CCD光谱仪。本发明是利用宽频谱的啁啾脉冲光作为探针,利用非线性晶体的光克尔效应将时域信号转化为频域信号进行实时的皮秒量级的时间测量。本发明具有结构简单,调节方便的特点。 | ||
申请公布号 | CN100410637C | 申请公布日期 | 2008.08.13 |
申请号 | CN200610026731.9 | 申请日期 | 2006.05.19 |
申请人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明人 | 杨明;刘建胜 |
分类号 | G01J11/00(2006.01) | 主分类号 | G01J11/00(2006.01) |
代理机构 | 上海新天专利代理有限公司 | 代理人 | 张泽纯 |
主权项 | 1. 一种利用啁啾脉冲频谱测量太赫兹脉冲序列的装置,其特征是在超短脉冲光(1)的前进方向有第一分束片(2)和光栅对(3),所述的超短脉冲光(1)经光栅对(3)展宽为一线性啁啾脉冲光,在该啁啾脉冲光经第一分束片(2)的反射光方向依次为起偏器(4)和第二分束片(6),一待测的高速光脉冲序列(5)从第二分束片(6)另一方向透射,在该待测的高速光脉冲序列(5)的前进方向依次为第二分束片(6)、非线性晶体(7)、第三分束片(8)、检偏器(10)和第一CCD光谱仪(11),第三分束片(8)的反射光经一反射镜(9)进入第二CCD光谱仪(12)。 | ||
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