| 发明名称 |
Method for Generating Test Data for functional test of data processing circuits |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
EP1505399(B1) |
申请公布日期 |
2008.06.25 |
| 申请号 |
EP20040014616 |
申请日期 |
2004.06.22 |
| 申请人 |
GIESECKE & DEVRIENT GMBH |
发明人 |
POLIVAEV, DMITRY;AIGLSTORFER, ERNST |
| 分类号 |
G06F11/263;G01R31/3183;G06F11/36 |
主分类号 |
G06F11/263 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
