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经营范围
发明名称
TEST APPARATUS, PHASE ADJUSTING METHOD AND MEMORY CONTROLLER
摘要
申请公布号
KR100840800(B1)
申请公布日期
2008.06.23
申请号
KR20067023285
申请日期
2006.11.06
申请人
发明人
分类号
G11C29/00;G11C7/22;G11C11/407;G11C29/56
主分类号
G11C29/00
代理机构
代理人
主权项
地址
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