发明名称 在半导体衬底中制造半导体元件的方法
摘要 本发明涉及在半导体衬底(12)中制造半导体元件的方法,具有以下步骤:在半导体衬底(12)内形成具有不同导电类型的阱(32,34)及形成沟状结构(36,60),其中阱(32,34)通过注入及向内扩散(26,44)入掺杂剂来产生,及产生半导体衬底(12)中的有源区及它们的接触结构。该方法的特征在于:向内扩散(26,44)通过至少两个高温步骤来产生,其中至少一个第一向内扩散(26)通过在产生沟状结构(36,60)以前的一个第一高温步骤来进行,及其中至少一个第二向内扩散(44)通过在产生沟状结构(36,60)以后的一个第二高温步骤来进行。
申请公布号 CN100392816C 申请公布日期 2008.06.04
申请号 CN200410079827.2 申请日期 2004.09.20
申请人 ATMEL德国有限公司 发明人 弗朗茨·迪茨;福尔克尔·杜德克;米夏埃多·格拉夫
分类号 H01L21/265(2006.01);H01L21/324(2006.01);H01L21/336(2006.01);H01L29/78(2006.01) 主分类号 H01L21/265(2006.01)
代理机构 永新专利商标代理有限公司 代理人 曾立
主权项 1.在一个半导体衬底(12)中制造半导体元件的方法,具有以下步骤:在该半导体衬底(12)内形成具有不同导电类型的阱(32,34)及形成沟状结构(36,60),其中这些阱(32,34)通过注入及向内扩散(26,44)入掺杂剂来产生,及产生半导体衬底(12)中的有源区及它们的接触结构,其特征在于:所述向内扩散(26,44)通过至少两个高温步骤来实现,其中至少一个第一向内扩散(26)通过在产生这些沟状结构(36,60)以前的一个第一高温步骤来进行,及其中至少一个第二向内扩散(44)通过在产生这些沟状结构(36,60)以后的一个第二高温步骤来进行。
地址 联邦德国海尔布隆