发明名称 |
用于信号过采样的参数扫描 |
摘要 |
一种用于信号过采样的参数扫描的方法和装置。一个装置的实施例包含一个均衡所接收到的数据值的均衡器,和过采样所述均衡数据的采样器。所述装置包含一个眼监视器,用于产生关于所述过采样数据的信号眼质量的信息,和一个均衡监视器,用于产生关于信号均衡充足信息;所述装置进一步包含一个扫描引擎,用于扫描所述装置的多个参数的可能值。 |
申请公布号 |
CN101166077A |
申请公布日期 |
2008.04.23 |
申请号 |
CN200710194466.X |
申请日期 |
2007.09.18 |
申请人 |
晶像股份有限公司 |
发明人 |
H·崔 |
分类号 |
H04L1/20(2006.01);H04B3/46(2006.01) |
主分类号 |
H04L1/20(2006.01) |
代理机构 |
上海专利商标事务所有限公司 |
代理人 |
陈炜 |
主权项 |
1.一种装置包括:均衡器,均衡所接收到的数据值;采样器,过采样均衡的数据;眼监视器,产生关于所述过采样的数据的信号眼质量的信息;均衡监视器,产生关于信号均衡的充分性信息;和扫描引擎,扫描所述装置的多个参数的可能值,所述参数的扫描包括调整所述参数,以及基于接收到的信号质量信息评估所述参数,所述接收到的信号质量信息包括关于来自所述均衡监视器的信号均衡的充分性的信息和关于来自所述眼监视器的过采样数据的信号眼质量的信息。 |
地址 |
美国加利福尼亚州 |