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Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Messung des Ausgangsstroms einer getakteten Halbbrückenschaltung (1), bei der wechselweise in Halbbrückenabschnitten (2a, 2b) befindliche Halbleiterschalter (5a, 5b) im Gegentakt gesperrt oder durchgeschaltet werden und dabei in einem Ausgangsstromkreis einen Wechselstrom bewirken. Es wird eine Strommessung des durch einen ersten Halbleiterschalter (5a) fließenden Stroms vorgenommen. Der durch einen ersten Halbleiterschalter (5a) fließende Strom wird induktiv in einen Sekundärstrom transformiert. Für den Sekundärstrom werden mindestens zwei Messwertsignale erzeugt, von denen ein erstes Messwertsignal dem Sekundärstrom bei durchgeschaltetem erstem Halbleiterschalter (5a) und ein zweites Messwertsignal dem Sekundärstrom bei gesperrtem erstem Halbleiterschalter (5b) entspricht. Der Ausgangsstrom wird durch Bildung der Differenz aus dem ersten und zweiten Messwertsignal bestimmt.
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