发明名称 半导体装置及半导体装置之制造方法
摘要 本发明之半导体装置系具备:基板;成膜于前述基板上之由加氟碳膜所构成的绝缘膜;埋入于前述绝缘膜之铜配线;及形成在前述绝缘膜与前述铜配线之间的阻障膜。前述阻障膜系具有:用以抑制氟扩散之由钛所构成的第1膜;及形成在前述第1膜与前述铜配线之间,并用以抑制铜扩散之由钽所构成的第2膜。
申请公布号 TW200811953 申请公布日期 2008.03.01
申请号 TW096122758 申请日期 2007.06.23
申请人 东京威力科创股份有限公司 发明人 堀正弘
分类号 H01L21/3205(2006.01);H01L21/768(2006.01) 主分类号 H01L21/3205(2006.01)
代理机构 代理人 林志刚
主权项
地址 日本