发明名称 | 半导体装置及半导体装置之制造方法 | ||
摘要 | 本发明之半导体装置系具备:基板;成膜于前述基板上之由加氟碳膜所构成的绝缘膜;埋入于前述绝缘膜之铜配线;及形成在前述绝缘膜与前述铜配线之间的阻障膜。前述阻障膜系具有:用以抑制氟扩散之由钛所构成的第1膜;及形成在前述第1膜与前述铜配线之间,并用以抑制铜扩散之由钽所构成的第2膜。 | ||
申请公布号 | TW200811953 | 申请公布日期 | 2008.03.01 |
申请号 | TW096122758 | 申请日期 | 2007.06.23 |
申请人 | 东京威力科创股份有限公司 | 发明人 | 堀正弘 |
分类号 | H01L21/3205(2006.01);H01L21/768(2006.01) | 主分类号 | H01L21/3205(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 林志刚 | |
主权项 | |||
地址 | 日本 |