发明名称 磁性读头之清洁结构
摘要 本创作系提供一种感应读头之清洁结构,该清洁结构设于感应读头上相应该量测尺位移,其中:该清洁结构包含一以预设角度或曲度成型的导除部,该清洁结构随该感应读头位移,藉此导除部导引推除量测尺上的障碍物,不仅减轻该清洁结构重量负担,降低该清洁结构推除阻力,进而延长使用寿命。
申请公布号 TWM327523 申请公布日期 2008.02.21
申请号 TW096214212 申请日期 2007.08.27
申请人 大银微系统股份有限公司 发明人 邓鸿群;萧志茂;黄敏智
分类号 G11B5/41(2006.01) 主分类号 G11B5/41(2006.01)
代理机构 代理人
主权项 1.一种感应读头之清洁结构,清洁结构设于感应读 头上相应量测尺位移,其中: 该清洁结构包含一以预设角度成型的导除部,该导 除部一侧成型一组部相应该感应读头,该导除部另 一侧相应该组部成型一抵部相应该量测尺。 2.如申请专利范围第1项所述之感应读头之清洁结 构,其中该清洁结构透过该组部装设于该感应读头 相应该量测尺侧上二端。 3.如申请专利范围第1项所述之感应读头之清洁结 构,其中该清洁结构透过该组部装设于该感应读头 相应该量测尺侧上中央。 4.一种感应读头之清洁结构,清洁结构设于感应读 头上相应量测尺位移,其中: 该清洁结构包含一以预设曲度成型的导除部,该导 除部一侧成型一组部相应该感应读头,该导除部另 一侧相应该组部成型一抵部相应该量测尺。 5.如申请专利范围第4项所述之感应读头之清洁结 构,其中该清洁结构透过该组部装设于该感应读头 相应该量测尺侧上二端。 6.如申请专利范围第5项所述之感应读头之清洁结 构,其中该清洁结构透过该组部装设于该感应读头 相应该量测尺侧上中央。 图式简单说明: 第1图 系习用之立体示意图。 第2图 系习用之清洁示意图。 第3图 系本创作之立体示意图。 第4图 系本创作之清洁示意图。 第5图 系本创作之平面示意图一。 第6图 系本创作之平面示意图二。 第7图 系本创作之平面示意图三。 第8图 系本创作之平面示意图四。 第9图 系本创作之平面示意图五。 第10图 系本创作之平面示意图六。 第11图 系本创作之平面示意图七。 第12图 系本创作之平面示意图八。 第13图 系本创作之平面示意图九。 第14图 系本创作之平面示意图十。
地址 台中市西屯区工业区六路1号
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