摘要 |
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Wandstärkenmessung. Sie kann angewendet werden bei der Wandstärkenmessung von Gegenständen aus Isolatorwerkstoffen, wie Flach- und Rundglas, Keramik, Kunststoffen, glasfaserverstärkten Kunststoffen und naturfaserverstärkten Kunststoffen. Bei dem Verfahren zur Wandstärkenmessung isolierender Materialien werden elektromagnetische Wellen hoher Frequenz auf die bezüglich ihrer Dicke zu messende Wand gestrahlt und die von der angestrahlten Wand reflektierte Strahlung empfangen, sodann aus dem gesendeten und dem reflektierten Signal ein komplexer Reflexionsfaktor errechnet. Der ermittelte komplexe Reflexionsfaktor wird hinsichtlich seines Real- und Imaginärteils oder hinsichtlich seines Betrages und seiner Phase in eine komplexe Kalibrierkurvenschar eingeordnet, wobei sich aus dem Ort des komplexen Reflexionsfaktors innerhalb der komplexen Kalibrierkurvenschar die zu messende Wandstärke ergibt. Die komplexe Kalibrierkurvenschar wird aus den ermittelten komplexen Reflexionsfaktoren von Kalibriermessungen realer Wandstärken bei unterschiedlichen Lift-off-Werten ermittelt.
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