发明名称 Verfahren zur Wandstärkenmessung
摘要 Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Wandstärkenmessung. Sie kann angewendet werden bei der Wandstärkenmessung von Gegenständen aus Isolatorwerkstoffen, wie Flach- und Rundglas, Keramik, Kunststoffen, glasfaserverstärkten Kunststoffen und naturfaserverstärkten Kunststoffen. Bei dem Verfahren zur Wandstärkenmessung isolierender Materialien werden elektromagnetische Wellen hoher Frequenz auf die bezüglich ihrer Dicke zu messende Wand gestrahlt und die von der angestrahlten Wand reflektierte Strahlung empfangen, sodann aus dem gesendeten und dem reflektierten Signal ein komplexer Reflexionsfaktor errechnet. Der ermittelte komplexe Reflexionsfaktor wird hinsichtlich seines Real- und Imaginärteils oder hinsichtlich seines Betrages und seiner Phase in eine komplexe Kalibrierkurvenschar eingeordnet, wobei sich aus dem Ort des komplexen Reflexionsfaktors innerhalb der komplexen Kalibrierkurvenschar die zu messende Wandstärke ergibt. Die komplexe Kalibrierkurvenschar wird aus den ermittelten komplexen Reflexionsfaktoren von Kalibriermessungen realer Wandstärken bei unterschiedlichen Lift-off-Werten ermittelt.
申请公布号 DE102006034458(A1) 申请公布日期 2008.01.31
申请号 DE20061034458 申请日期 2006.07.26
申请人 ESA PATENTVERWERTUNGSAGENTUR SACHSEN-ANHALT GMBH;HOCHSCHULE MAGDEBURG-STENDAL (FH) 发明人 HINKEN, JOHANN;BELLER, THOMAS
分类号 G01B15/02 主分类号 G01B15/02
代理机构 代理人
主权项
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