发明名称 一种纳米硫系化合物相变存储器的制备方法
摘要 本发明涉及一种纳米硫系化合物相变存储器的制备方法,属于微电子领域。本发明的特征在于,在硅基片上,先生长一层SiO<SUB>2</SUB>,然后在上面沉积一层底电极。接着在电极上面,均匀生长一些相变纳米点,最后沉积一层相变薄膜。退火处理后,可在电极上形成较高的纳米点。接着沉积一层SiO<SUB>2</SUB>,用CMP进行抛光使其平整,沉积顶电极。整个存储器的结构见图8。施加脉冲信号,并测量其I-V特性,电阻率有较大的变化。本发明通过生长硫系化合物纳米点,为制备相变存储器提供了一种新的方法。
申请公布号 CN100356607C 申请公布日期 2007.12.19
申请号 CN200510030637.6 申请日期 2005.10.19
申请人 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 发明人 宋志棠;马友鹏;封松林;陈邦明
分类号 H01L45/00(2006.01) 主分类号 H01L45/00(2006.01)
代理机构 上海智信专利代理有限公司 代理人 潘振甦
主权项 1、种纳米硫系化合物相变存储器的制备方法,其特征在于具体工艺步骤依次为:(a)在(100)取向的硅片上,生长一层SiO2;(b)在SiO2上面沉积一层电极作底电极;(c)在电极上面,惰性保护气氛卜,生长相变纳米点;纳米点的尺寸大小和分布密度可由退火时间、保温时间及气氛种类和大小控制;(d)再在纳米点上沉积一层相变薄膜;(e)在步骤d所述的相变薄膜沉积后,在非氧化性气氛保护下,采用热处理方法,使纳米点的高度变大;(f)接着在相变薄膜上再沉积一层SiO2层,且用化学机械抛光进行抛光使其平整,并使纳米点的顶端暴露;(g)在抛光平坦后的SiO2层上,沉积一层电极材料作顶电极,然后对其进行掩膜和曝光,使每个纳米点上均有电极覆盖。
地址 200050上海市长宁区长宁路865号