发明名称 | 电子器件 | ||
摘要 | 本发明目的在于提供能高精度地获得电容元件的电容值的电子器件。该电子器件(1)具有形成在衬底(51)的平坦化层(52)上的下部导体(第1导体)(21)、形成在下部导体(21)上的介质膜(31)及形成在介质膜(31)上的、比下部导体(21)薄的上部导体(第2导体)(23)。电容元件(11)由下部导体(21)、介质膜(31)及上部导体(23)构成。 | ||
申请公布号 | CN101067985A | 申请公布日期 | 2007.11.07 |
申请号 | CN200710102992.9 | 申请日期 | 2007.05.08 |
申请人 | TDK株式会社 | 发明人 | 桑岛一 |
分类号 | H01G4/33(2006.01) | 主分类号 | H01G4/33(2006.01) |
代理机构 | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人 | 曾祥夌;陈景峻 |
主权项 | 1.一种电子器件,其特征在于,具有:形成在衬底上的第1导体;形成在所述第1导体上的介质膜;及形成在所述介质膜上且比所述第1导体薄的第2导体,电容元件由所述第1导体、所述第2导体及所述介质膜构成。 | ||
地址 | 日本东京 |