发明名称 微间隙环型铁芯工艺
摘要 本发明有关于生产一种微米间隙环型铁芯的新工艺,可制造出具有高电感值与高度耐电压特性的微间隙环型铁芯,包括(1)剖环型铁芯(Core)(2)涂胶(3)复合(4)烘烤,即得本发明产品,通常使用前必须经由测试阶段;经由本发明工艺的产品特性其外观如一般环型铁芯两半复合,中间有两道胶合间隙;在机械特性方面,胶的结合力可承受强度破坏实验与冷热冲击试验;在电性方面,较传统环型铁芯具有低磁损,小尺寸和耐DC电压的特性。
申请公布号 CN101047060A 申请公布日期 2007.10.03
申请号 CN200610066375.3 申请日期 2006.03.30
申请人 越峯电子材料股份有限公司 发明人 吴镇台;张志宏
分类号 H01F41/02(2006.01);H01F3/00(2006.01) 主分类号 H01F41/02(2006.01)
代理机构 北京集佳知识产权代理有限公司 代理人 逯长明
主权项 1、一种微米间隙环型铁芯的工艺,其特征在于,包含:(1)剖Core,利用治具与机构来进行,利用原环型Core剖开后,原剖开面的复合可达到微米间隙的目的;(2)涂胶,选用环氧树脂黏着剂做为间隙的填充材料,可得产品的最终特性;(3)复合,利用两半的原剖开面可完全吻合的特性,胶合后可得到微米间隙;(4)烘烤,烘烤使环氧树脂黏着剂硬化,增加结合力与机械性质,即得微间隙环型铁芯产品。
地址 台湾省台北市内湖区基湖路39号8楼