发明名称 |
GAAS基半导体结构上的氧化层及其形成方法 |
摘要 |
一种化合物半导体结构,包括位于支撑半导体结构(7)上的镓氧化物的第一层(8),从而与之形成界面。在第一层上设置Ga-Gd氧化物的第二层(9)。GaAs基支撑半导体结构可以是GaAs基异质结构,如至少部分完成的半导体器件(例如金属氧化物场效应晶体管(430)、异质结双极晶体管(310)或半导体激光器)。按照这样的方式,由于介电结构由紧接着Ga-Gd氧化物层的Ga<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>层形成,提供了同时在氧化物-GaAs界面具有低缺陷密度和具有低氧化物漏电流密度的介电层结构。Ga<SUB>2</SUB>O<SUB>3</SUB>层用于形成与GaAs基支撑半导体结构的高质量界面,同时Ga-Gd氧化物提供低氧化物漏电流密度。 |
申请公布号 |
CN1333445C |
申请公布日期 |
2007.08.22 |
申请号 |
CN02827682.5 |
申请日期 |
2002.12.18 |
申请人 |
飞思卡尔半导体公司 |
发明人 |
马提亚斯·帕斯莱克;小尼古拉斯·威廉·梅登多普 |
分类号 |
H01L21/316(2006.01);C23C14/08(2006.01) |
主分类号 |
H01L21/316(2006.01) |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
王永刚 |
主权项 |
1.一种化合物半导体结构,包括:GaAs基支撑半导体结构;位于支撑半导体结构的表面上从而与之形成界面的三氧化二镓构成的第一层,以及设置在第一层上的由Ga-Gd氧化物构成的第二层。 |
地址 |
美国德克萨斯州 |