| 发明名称 | 去除噪声的方法和装置以及用于数字记录的磁头－介质间距调制的测量 | ||
| 摘要 | 一种用于测量磁头-介质间距调制(HMS_Wq)的方法和装置运用一个表面光度仪来测量盘的表面构形。累积功率谱密度(PSD)分布从测得的表面构形生成。不连续和阶跃在PSD分布中被识别。不连续和阶跃被去除以创建一经修正的PSD分布。于是从经修正的PSD分布生成一无噪声谱。 | ||
| 申请公布号 | CN1319049C | 申请公布日期 | 2007.05.30 |
| 申请号 | CN200410032436.5 | 申请日期 | 2004.03.31 |
| 申请人 | 希捷科技有限公司 | 发明人 | 王建民;J·L·普雷塞斯基 |
| 分类号 | G11B5/60(2006.01) | 主分类号 | G11B5/60(2006.01) |
| 代理机构 | 上海专利商标事务所有限公司 | 代理人 | 火惠颖 |
| 主权项 | 1.一种测量磁头-盘介质间距调制HMS_Wq的方法，其特征在于，包含以下步骤：测量盘介质的表面构形：从测得的所述盘介质的表面构形生成一累积功率谱密度PSD；识别累积PSD分布中的不连续及阶跃；和去除累积PSD分布中的不连续及阶跃。 | ||
| 地址 | 美国加利福尼亚州 | ||