| 发明名称 | 金属沉积物表面上出现晶须风险的评测方法 | ||
| 摘要 | 本发明涉及一种评测基板上的金属沉积物表面出现晶须风险的方法，其中该金属沉积物为纯金属沉积物或者合金沉积物，该方法是测量该金属沉积物的电化学阻抗。 | ||
| 申请公布号 | CN1965227A | 申请公布日期 | 2007.05.16 |
| 申请号 | CN200580011226.0 | 申请日期 | 2005.04.14 |
| 申请人 | 微脉冲电镀概念公司 | 发明人 | 大卫·芒雄;斯蒂文·梅纳尔 |
| 分类号 | G01N17/02(2006.01);G01N27/02(2006.01);G01R31/36(2006.01);C25D21/00(2006.01) | 主分类号 | G01N17/02(2006.01) |
| 代理机构 | 隆天国际知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王玉双 |
| 主权项 | 1.一种测评基板上的金属沉积物表面出现晶须风险的方法，其中该金属沉积物为纯金属或者合金沉积物，该方法是测量该金属沉积物的电化学阻抗。 | ||
| 地址 | 法国里昂 | ||