发明名称 热处理系统之内建自测试(二) BUILT-IN SELF TEST FOR A THERMAL PROCESSING SYSTEM
摘要 一种建立及/或修改即时监测热处理系统用之内建自测试(BIST)表格的方法,该方法包含将复数片晶圆安置于热处理系统之处理室中;执行即时动态模型以产生预测动态处理应答;建立量测动态处理应答;决定动态估计误差;判定该决定动态估计误差是否可与BIST表格中的预先存在之BIST规则相关联;当该动态估计误差无法与BIST表格中的任意预先存在之BIST规则相关联时,便建立新的BIST规则;以及当无法建立新的BIST规则时,则停止该处理。
申请公布号 TW200712812 申请公布日期 2007.04.01
申请号 TW095132325 申请日期 2006.09.01
申请人 东京威力科创股份有限公司 发明人 桑吉 高斯豪;普拉迪普 潘狄;杉岛贤次
分类号 G05B23/02(2006.01);H01L21/00(2006.01) 主分类号 G05B23/02(2006.01)
代理机构 代理人 周良谋;周良吉
主权项
地址 日本