发明名称 记忆体测试方法
摘要 一种记忆体测试方法,系包括以下步骤:启动作业系统,令系统进入记忆体测试之保护模式;在记忆体中创建一位址转换页表;判断待测记忆体之物理位址空间是否超过4GB;如是,启动位址转换页表,将系统给定的32位线性位址转换为与记忆体之实际物理位址相对应,并在系统处理器之控制下,依照位址转换页表查询和访问记忆体之实际物理位址,且执行记忆体检测算法进行记忆体测试;如否,则在系统处理器的控制下,直接访问与系统之32位线性位址相对应的记忆体之实际物理位址,并执行记忆体检测算法进行记忆体测试。
申请公布号 TW200709214 申请公布日期 2007.03.01
申请号 TW094128111 申请日期 2005.08.17
申请人 英业达股份有限公司 发明人 丁怀亮;陈玄同;刘文涵
分类号 G11C29/00(2006.01);G06F11/28(2006.01) 主分类号 G11C29/00(2006.01)
代理机构 代理人 许世正
主权项
地址 台北市士林区后港街66号