发明名称 | 记忆体测试方法 | ||
摘要 | 一种记忆体测试方法,系包括以下步骤:启动作业系统,令系统进入记忆体测试之保护模式;在记忆体中创建一位址转换页表;判断待测记忆体之物理位址空间是否超过4GB;如是,启动位址转换页表,将系统给定的32位线性位址转换为与记忆体之实际物理位址相对应,并在系统处理器之控制下,依照位址转换页表查询和访问记忆体之实际物理位址,且执行记忆体检测算法进行记忆体测试;如否,则在系统处理器的控制下,直接访问与系统之32位线性位址相对应的记忆体之实际物理位址,并执行记忆体检测算法进行记忆体测试。 | ||
申请公布号 | TW200709214 | 申请公布日期 | 2007.03.01 |
申请号 | TW094128111 | 申请日期 | 2005.08.17 |
申请人 | 英业达股份有限公司 | 发明人 | 丁怀亮;陈玄同;刘文涵 |
分类号 | G11C29/00(2006.01);G06F11/28(2006.01) | 主分类号 | G11C29/00(2006.01) |
代理机构 | 代理人 | 许世正 | |
主权项 | |||
地址 | 台北市士林区后港街66号 |