发明名称 设计掩模的方法
摘要 本发明提供一设计掩模(mask)的方法。首先,包括至少一个条状图案的主要图形在掩模衬底上形成,而转移机构(shift feature)附加在条状图案的一端。在主要图形的线端与线端之间的最后临界尺寸(critical dimension)可借由调整转移机构的相移量(phase shift)或透光率(optical transmission),或两者同时调整以最佳化。因此可改善主要图形中条状图案尾端的回拉现象(pullback)。
申请公布号 CN1908814A 申请公布日期 2007.02.07
申请号 CN200510089328.6 申请日期 2005.08.02
申请人 联华电子股份有限公司 发明人 谢铭峰;林思闽;尤春祺;刘建新
分类号 G03F1/16(2006.01);G03F1/08(2006.01);G03F9/00(2006.01);H01L21/027(2006.01) 主分类号 G03F1/16(2006.01)
代理机构 北京市柳沈律师事务所 代理人 魏晓刚;李晓舒
主权项 1.一种设计掩模的方法,其特征在于,该方法包括:提供一掩模,该掩模包括一掩模衬底以及形成在该掩模衬底上的一主要图形,其中该主要图形包括至少一条状图案,以及提供一转移机构至该主要图形中的该条状图案的一端,使得该条状图案的该端的临界尺寸小于0.255微米,其中该掩模衬底与该转移机构之间有范围在60度至100度的一光相位差,转移机构的一透光度的范围在60%至100%。
地址 台湾省新竹科学工业园区
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