荧光计

摘要

在用于在样品表面处产生和检测荧光的设备中，该设备高于该样品表面的高度减小，并且由于反射损耗和光散射而导致的所发射的荧光的损耗被最小化。该设备包括三维弯曲的光反射表面(40)，其横向于来自光源(32)的光的原始路径而引导该光，并且将该光聚焦到该样品表面处或该样品表面下的照明区(30)。该反射表面(40)还横向于所发射的荧光的原始路径并朝向检测器(46)收集、引导并至少部分地准直该荧光。

主权项

1.用于在一表面处或下产生和检测荧光的设备，所述设备包括：光源，用于沿在所述表面上延伸的光路引导荧光激发光；反射器，具有三维弯曲的、类似壳的光反射界面，其被定位以接收从该光源沿所述光路的一部分在所述表面上通过的光，并相对于该光路的所述部分横向地反射所述光，以便将所述光聚焦在所述表面处或下的照明区上用于在所述区激励荧光，并且用于收集在所述区发射的荧光，并且反射并至少部分地准直所述光以沿该光路的所述部分返回；以及检测器，用于接收在所述界面反射之后的以荧光发射的所述光。