发明名称 |
具自校正功能的集成电路、测量装置及参数自我烧录方法 |
摘要 |
本发明公开了一种集成电路、应用该集成电路的测量装置,以及集成电路的参数自我烧录方法,该集成电路包括微处理器、一次可程序化内存,该一次可程序化内存中规划有至少一指令集存储区、一参数记忆区,所述参数记忆区用于储存校正用标准参数;该微处理器根据该一次可程序化内存中的标准参数,计算相对应于该数字信号之实际量测值。本发明的集成电路不需要额外外接存储组件,节省最终系统产品的组件,降低最终的电子测量装置的成本。由于本发明提供的集成电路具有自我烧录校正参数的功能,可在最终系统产品制造完成后,直接进行自我校正,使其校正程序简化,对于应用厂商或集成电路厂商均可以藉以降低生产成本。 |
申请公布号 |
CN1884976A |
申请公布日期 |
2006.12.27 |
申请号 |
CN200610061603.8 |
申请日期 |
2006.07.07 |
申请人 |
富享微电子(深圳)有限公司 |
发明人 |
赵伯寅;林祥民;袁国元 |
分类号 |
G01D3/02(2006.01);G01D3/10(2006.01);G01D5/00(2006.01) |
主分类号 |
G01D3/02(2006.01) |
代理机构 |
深圳创友专利商标代理有限公司 |
代理人 |
陈俊斌 |
主权项 |
1.一种具自校正功能的集成电路,其特征是:至少包含:一微处理器;一一次可程序化内存,直接连接该微处理器,该一次可程序化内存中规划有至少一指令集存储区、一参数记忆区,所述参数记忆区用于储存标定参数或校正用标准参数;该微处理器可根据该一次可程序化内存中的标准参数,计算相对应于该数字信号之实际模拟量。 |
地址 |
518055广东省深圳市南山区沙河西路鼎新大厦西座14、15楼 |