| 摘要 |
Izum se odnosi na postupak visoko-frekventnog ugađanja visoko-frekventnog utičnog konektora (1) koji se sastoji od utisnute pločice strujnog kruga (3) koja ima obje kontaktne točke (21-28) za visoko-frekventne kontakte kao i kontaktne točke (31-38) za kontakte sa zamjenom izolacije. Svaka kontaktnatočka (21-28) za visoko-frekventne kontakte je spojena na jednu odgovarajuću kontaktnu točku (31-38) za kontakte sa zamjenom izolacije. Kapacitivni spojevi, koji uzrokuju interferenciju, pojavljuju se između visoko-frekventnih kontakata. Najmanje jedna prva staza vodiča (46) koja je spojena samo najednoj strani na kontaktnu točku (26) električnogkontakta, je smještena na utisnutoj pločici strujnog kruga, koja zajedno s najmanje jednom drugom stazom vodiča (44), koja je smještena na i/ili u utisnutoj pločici strujnog kruga (3), oblikuje kondenzator (C46). Najmanje jedan parametar ovisan o frekvenciji uređaja mjeri se i taj parametar ovisan o frekvenciji uspoređuje se sa nominalnim parametrom, a na temelju razlike između ta dva parametra, djelomično se uklanja ili potpuno odvaja staza vodiča (46) spojena sa jedne strane. |
