发明名称 一种实时光学薄膜厚度监控设备
摘要 本实用新型公开了一种实时光学薄膜厚度监控设备,由光电传感器、直流信号放大器、A/D转换器、均值滤波器、安装有剔除奇异项、极值点判断软件的计算机及显示器依次连接构成。本实用新型克服了自动化程度低、操作者劳动强度大、监控单元分辨率不高、信号处理能力差、极值点难以判断,以及数据不能自动存储等问题,从而实现了镀制过程中对光学薄膜光谱特性的实时在线监控。
申请公布号 CN2833515Y 申请公布日期 2006.11.01
申请号 CN200420095384.1 申请日期 2004.11.19
申请人 华南理工大学 发明人 黄光周;于继荣;刘雄英
分类号 G01B11/06(2006.01);G01B21/08(2006.01) 主分类号 G01B11/06(2006.01)
代理机构 广州粤高专利代理有限公司 代理人 何淑珍
主权项 1、一种实时光学薄膜厚度监控设备,其特征在于由光电传感器(1)、直流信号放大器(2)、A/D转换器(3)、均值滤波器(4)、安装有剔除奇异项(5)、极值点判断(6)软件的计算机及显示器(7)依次连接构成。
地址 510640广东省广州市天河区五山路381号
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