发明名称 |
一种实时光学薄膜厚度监控设备 |
摘要 |
本实用新型公开了一种实时光学薄膜厚度监控设备,由光电传感器、直流信号放大器、A/D转换器、均值滤波器、安装有剔除奇异项、极值点判断软件的计算机及显示器依次连接构成。本实用新型克服了自动化程度低、操作者劳动强度大、监控单元分辨率不高、信号处理能力差、极值点难以判断,以及数据不能自动存储等问题,从而实现了镀制过程中对光学薄膜光谱特性的实时在线监控。 |
申请公布号 |
CN2833515Y |
申请公布日期 |
2006.11.01 |
申请号 |
CN200420095384.1 |
申请日期 |
2004.11.19 |
申请人 |
华南理工大学 |
发明人 |
黄光周;于继荣;刘雄英 |
分类号 |
G01B11/06(2006.01);G01B21/08(2006.01) |
主分类号 |
G01B11/06(2006.01) |
代理机构 |
广州粤高专利代理有限公司 |
代理人 |
何淑珍 |
主权项 |
1、一种实时光学薄膜厚度监控设备,其特征在于由光电传感器(1)、直流信号放大器(2)、A/D转换器(3)、均值滤波器(4)、安装有剔除奇异项(5)、极值点判断(6)软件的计算机及显示器(7)依次连接构成。 |
地址 |
510640广东省广州市天河区五山路381号 |