| 发明名称 |
Semiconductor device with testing capability |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1099953(B1) |
申请公布日期 |
2006.08.30 |
| 申请号 |
EP20000305720 |
申请日期 |
2000.07.06 |
| 申请人 |
SHARP KABUSHIKI KAISHA |
发明人 |
MIYACHI, KUMI;YAMASHITA, TOSHIFUMI |
| 分类号 |
G01R31/28;G01R31/3185;G11C29/00;H01L21/66;H01L21/822;H01L25/065;H01L25/07;H01L25/18;H01L27/04 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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