使用内部实速逻辑－BIST的逻辑模块的自动故障测试

摘要

使用内置于芯片的实速逻辑－BIST，逻辑模块和具有芯片内部逻辑门的宏接口的自动故障测试的系统和方法。在初始化内部存储元件之后，产生一组测试信号并被该逻辑模块处理。该逻辑模块的输出被累积到一个标记并与参考标记相比较以检测故障。可以使用简单的测试矢量在ATE(自动测试设备)上执行测试，或可以由现场工程师在包括芯片的实际面板上执行。

主权项

1.一种半导体装置，包括：逻辑模块，其具有与时钟信号和复位信号相连的一组触发器和存储器；图形发生器，用以产生一组由逻辑模块处理的测试信号；标记累加器，在处理测试信号时基于由逻辑模块产生的一组输出产生测试标记；和内建自测试(逻辑-BIST)电路，用以初始化触发器和存储器和初始化逻辑模块的测试；其中初始化触发器和存储器使得它们同时存储已知值，而不管触发器和存储器上的复位信号的定时变化或传播延迟。