发明名称 涂布之半导体晶圆,及制造该半导体晶圆之方法及装置
摘要 本发明之内容系藉化学蒸气沉积法(CVD)于半导体晶圆正面上沉积一层期间作为放置半导体晶圆之晶座,该晶座具有一透气之结构,该结构之孔积率至少为15%,密度为0.5至1.5公克/立方公分,孔直径低于0.1公厘及孔之内表面面积大于10000平方公分/立方公分。本发明之另一内容系具有背面及正面之半导体晶圆,该半导体晶圆之正面业经藉化学蒸气沉积法(CVD)涂布过且背面业经抛光或蚀刻过,其中该背面之奈米构形(以峰至谷之高度起伏变化表示)低于5奈米,同时背面之晕(以蒙雾表示)低于5个百万分点。
申请公布号 TW200627523 申请公布日期 2006.08.01
申请号 TW094144396 申请日期 2005.12.15
申请人 世创电子材料公司 发明人 莱茵哈德.萧尔;诺尔伯特.维诺
分类号 H01L21/205;H01L21/68;C30B25/12 主分类号 H01L21/205
代理机构 代理人 甯育丰
主权项
地址 德国