发明名称 PARALLEL TEST METHOD FOR SEMICONDUCTOR DEVICE USING A DIVISION OF VOLTAGE SUPPLY UNIT
摘要
申请公布号 KR20060082198(A) 申请公布日期 2006.07.18
申请号 KR20050002460 申请日期 2005.01.11
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 LEE, SANG HOON;JI, JOON SU;AHN, JUNG BAE
分类号 G01R31/26;G01R31/28 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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