发明名称 一种成长超薄闸极氧化层之方法
摘要 本发明提供一种成长超薄闸极氧化层之方法,采用直流叠加交流电阳极氧化法,以去离子水为电解液,于矽晶片上形成超薄闸极氧化层。本发明通过在阳极氧化之直流电上叠加固定频率之交流电,来调节电解液中电场分布,使电解液中离子获得重新分布机会,最终获得均匀性更佳、具有低漏电流之闸极氧化层。该方法可广泛应用于制造各种金属氧化物半导体。
申请公布号 TW200623237 申请公布日期 2006.07.01
申请号 TW093140451 申请日期 2004.12.24
申请人 鸿海精密工业股份有限公司 发明人 廖伟见;李欣和
分类号 H01L21/20 主分类号 H01L21/20
代理机构 代理人
主权项
地址 台北县土城市自由街2号