发明名称 | 一种成长超薄闸极氧化层之方法 | ||
摘要 | 本发明提供一种成长超薄闸极氧化层之方法,采用直流叠加交流电阳极氧化法,以去离子水为电解液,于矽晶片上形成超薄闸极氧化层。本发明通过在阳极氧化之直流电上叠加固定频率之交流电,来调节电解液中电场分布,使电解液中离子获得重新分布机会,最终获得均匀性更佳、具有低漏电流之闸极氧化层。该方法可广泛应用于制造各种金属氧化物半导体。 | ||
申请公布号 | TW200623237 | 申请公布日期 | 2006.07.01 |
申请号 | TW093140451 | 申请日期 | 2004.12.24 |
申请人 | 鸿海精密工业股份有限公司 | 发明人 | 廖伟见;李欣和 |
分类号 | H01L21/20 | 主分类号 | H01L21/20 |
代理机构 | 代理人 | ||
主权项 | |||
地址 | 台北县土城市自由街2号 |