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La présente invention est relative à un procédé de mesure d'aberrations de front d'onde en lumière cohérente d'illumination d'une scène (S) et de correction des effets de ces aberrations sur la propagation de cette lumière, et ce procédé est caractérisé en ce que l'on utilise plusieurs faisceaux différents de lumière cohérente pour illuminer la scène dans un temps court devant celui de l'évolution des aberrations, que l'on acquiert le signal renvoyé par la scène pour chacun de ces faisceaux, que l'on calcule la modification de phase produite par les aberrations et que l'on corrige le signal acquis à l'aide du résultat de ce calcul.
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