发明名称 METHOD OF TESTING A FLASH MEMORY DEVICE
摘要
申请公布号 KR20060068216(A) 申请公布日期 2006.06.21
申请号 KR20040106851 申请日期 2004.12.16
申请人 HYNIX SEMICONDUCTOR INC. 发明人 LEE, YOUNG BOK
分类号 G11C29/00 主分类号 G11C29/00
代理机构 代理人
主权项
地址
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