发明名称 用于测试继电器之量测装置
摘要 本发明系关于一种用于一测试继电器之量测装置,该量测装置包括:一电源组、一讯号产生器及一讯号波形量测器。该电源组用以提供一电压讯号及一电流讯号,该电压讯号耦接至该线圈之一第一端点,该电流讯号耦接至该共通接点。该讯号产生器用以产生一输入讯号至该线圈之一第二端点。讯号波形量测器用以取得该线圈之该第二端点之一输入讯号波形,及该共通接点之一切换讯号波形,以判断该继电器是否正常。因此,本发明之量测装置可以动态量测继电器是否正常动作,以确定该继电器之好坏。并且,本发明之量测装置可藉由比较该切换讯号波形及该继电器之规格,以确定所量测切换讯号波形之切换延迟时间及切换频率是否符合规格,及切换之正确性。
申请公布号 TW200618015 申请公布日期 2006.06.01
申请号 TW093136337 申请日期 2004.11.25
申请人 日月光半导体制造股份有限公司 发明人 卢欣玫;陈明坤
分类号 H01H49/00 主分类号 H01H49/00
代理机构 代理人 陈长文
主权项
地址 高雄市楠梓加工区经三路26号