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Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren zur markierungsfreien Untersuchung physikalischer, chemischer und/oder biochemischer Reaktionen, Bindungs- und Anlagerungsvorgängen oder sonstiger Wechselwirkungen in oder an einer dünnen Schicht. Bei diesem Verfahren wird die auf Reflexionsmessungen basierende Detektion von einem Spektrum, bestehend aus mehreren Wellenlängen, auf die Detektion nur einer einzigen Wellenlänge reduziert. Die Messung der Änderung der Intensität des an der dünnen Schicht reflektierten Lichtanteils als Folge von stattgefundenen Wechselwirkungen in oder an der dünnen Schicht erfolgt dann bei einer für die Auswertung der Messergebnisse optimalen Wellenlänge. Diese entspricht einer Wellenlänge, bei der die Änderung der Lichtintensität nach einer erfolgten Reaktion oder Wechselwirkung an oder in der dünnen Schicht am größten ist. Die für die Messung optimale Wellenlänge hängt zum einen von den Eigenschaften der dünnen Schicht, insbesondere ihrer optischen Dicke, sowie des Trägers, auf dem die dünne Schicht angeordnet sein kann, ab. Zum anderen hängt die optimale Wellenlänge vom Einfallswinkel und der Polarisierung des auf die dünne Schicht einfallenden Lichtes ab. Die vorliegende Erfindung betrifft ferner eine Vorrichtung zur Durchführung des beschriebenen Verfahrens.
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