发明名称 Anordnung eines Bauteils und einer Kontrollvorrichtung des Bauteils mit Zeitbereichsreflektometer und Verwendung der Anordnung
摘要 Die Erfindung betrifft eine Anordnung eines Bauteils (2, 20) mit mindestens einer Kontrollvorrichtung (3) zum Erfassen einer Degradation (40) des Bauteils, wobei die Kontrollvorrichtung mindestens eine elektrische Leiterstruktur (30) aufweist und das Bauteil und die Leiterstruktur der Kontrollvorrichtung derart miteinander verbunden sind, dass die Degradation des Bauteils eine Degradation (41) der Leiterstruktur bewirkt. Die Anordnung ist dadurch gekennzeichnet, dass die Kontrollvorrichtung mindestens ein Mittel zur Untersuchung eines Zeitbereichsverhaltens der Leiterstruktur aufweist. Die Erfindung betrifft auch ein Verfahren zum Überprüfen einer Funktionsfähigkeit eines Bauteils unter Verwendung der Anordnung. Das Verfahren beinhaltet folgende Verfahrensschritte: a) Einspeisen des Eingangssignals in die Leiterstruktur, b) Auslesen des Ausgangssignals aus der Leiterstruktur und c) Auswerten des Messsignals. Die Erfindung wird insbesondere zur Funktionskontrolle eines Hitzeschildes (20) einer Brennkammer einer Gasturbine eingesetzt.
申请公布号 DE102004047699(A1) 申请公布日期 2006.04.13
申请号 DE200410047699 申请日期 2004.09.30
申请人 SIEMENS AG 发明人 LAAG, NIELS VAN DER
分类号 G01M13/00;G01M15/00 主分类号 G01M13/00
代理机构 代理人
主权项
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