发明名称 光记录媒体及其制法,暨光记录媒体用之母碟压模及其制法
摘要 光记录媒体包含一光透射基板其具有一螺旋状沟槽成形于其上,以及一记录层含有一种有机染料,其中该沟槽壁于其向内侧之平均倾角系大于该沟槽壁于其向外侧之平均倾角。于此种配置,当记录层系藉旋涂法形成时,可防止沟槽内部之记录层厚度分散,确保记录层可被提供以于沟槽内部区域由其向内侧至向外侧具有所需厚度。结果记录期间发射之雷射束热量可于沟槽内部区域由其向内侧至其向外侧几乎均匀地耗散,藉此消除各记号间的热干涉效应,因此于高速记录期间可获得宽广功率边际。
申请公布号 TWI251830 申请公布日期 2006.03.21
申请号 TW093120651 申请日期 2004.07.09
申请人 TDK股份有限公司 发明人 洞井高志;川口裕一
分类号 G11B7/24 主分类号 G11B7/24
代理机构 代理人 赖经臣 台北市松山区南京东路3段346号1112室;宿希成 台北市松山区南京东路3段346号1112室
主权项 1.一种光记录媒体,包含: 一基板,其具有一螺旋状沟槽成形于其至少一面上 ;以及 一含有有机染料之记录层成形于基板之形成沟槽 该侧的表面上, 其中沟槽壁于其向内侧之平均倾角系大于其向外 侧之平均倾角。 2.如申请专利范围第1项之光记录媒体,进一步包含 一反射层设置于该基板之与记录层相对该侧。 3.如申请专利范围第1或2项之光记录媒体,其中该 沟槽系与预设振幅颤动;以及于该振幅中心,沟槽 壁于其向内侧之倾角系大于沟槽壁于其向外侧之 倾角。 4.如申请专利范围第3项之光记录媒体,其中于沟槽 颤动最向外部分,沟槽壁于其向内侧之倾角系大于 沟槽壁于其向外侧之倾角。 5.一种光记录媒体之制法,包含: 一第一步骤,曝光光阻母碟,而曝光雷射束光轴平 均系朝向光阻母碟之向内侧倾斜; 一第二步骤,转印如此藉曝光形成于光阻母碟上之 图案来制备光记录媒体用母碟; 一第三步骤,转印形成于光记录媒体用母碟之图案 来制备一具有一沟槽之基板;以及 一第四步骤,旋涂含有机染料之溶液至基板之有沟 槽成形于其上该侧之表面上。 6.如申请专利范围第5项之光记录媒体之制法,其中 于第一步骤,曝光雷射束朝向光阻母碟向内侧之平 均偏转角预设为由大于0度至不大于0.00045度。 7.如申请专利范围第6项之光记录媒体之制法,其中 于第一步骤,曝光雷射束之辐射角变化造成形成曝 光图案以预定振幅颤动,于对应振幅中心之曝光图 案曝光期间,曝光雷射束朝向光阻母碟向内侧之偏 转角度预设为由大于0度至不大于0.00045度。 8.如申请专利范围第7项之光记录媒体之制法,其中 于光阻母碟之对应沟槽颤动最向外部分之该部分 曝光期间,曝光雷射束朝向光阻母碟向内侧之偏转 角预设为由大于0度至不大于0.00045度。 9.一种光记录媒体之制法,包含: 一第一步骤,使用一光记录媒体用母碟,其具有螺 旋状升高图案,来制备一具有一螺旋状沟槽之基板 ,其中升高图案壁于其向内侧之平均倾角系大于升 高图案壁于其向外侧之平均倾角;以及 一第二步骤,旋涂含有机染料之溶液至基板于其有 沟槽成形于其上之该侧表面上。 10.一种用于制造光记录媒体基板之光记录媒体用 母碟,其中制备光记录媒体用基板之光母碟,其中 提供螺旋状升高图案于其表面上,且升高图案壁于 其向内倾之倾角系大于升高图案壁于其向外侧之 倾角。 11.一种光记录媒体用母碟之制法,包含: 一第一步骤,将一光阻母碟曝光,该曝光雷射束之 光轴平均系朝向光阻母碟之向内侧倾斜;以及 一第二步骤,藉曝光转印如此形成于光阻母碟之图 案,来制备一光记录媒体用母碟。 图式简单说明: 图1A为分解透视图,显示根据本发明之较佳具体例, 光记录媒体10之外观; 图1B为图1A部分A之放大部分剖面图; 图2为放大剖面图,显示光透射基板11表面侧绘细节 ; 图3为颤动沟槽11a之典型顶视平面图; 图4A显示沟槽11a最向外颤动之部分41之剖面图侧绘 ; 图4B显示振幅之中心部分42之剖面图侧绘; 图4C显示沟槽11a最向内颤动之部分43之剖面图侧绘 ; 图5显示沟槽11a内部之记录层21厚度之略图; 图6显示用于切割光阻母碟之切割装置范例之示意 组配图; 图7显示曝光雷射束121a光轴偏转之略图; 图8为沿感光材料层202之径向方向所取之部分剖面 图,该感光材料层202已经经过曝光而有潜像形成于 其上; 图9显示当允许潜像203颤动时,曝光雷射束121a光轴 偏转之略图; 图10A至10E显示光记录媒体用母碟210制造方法之流 程图; 图11显示光记录媒体用母碟210之表面侧绘细节之 放大剖面图; 图12A至12C显示光记录媒体10制造方法之流程图; 图13A至13C显示光记录媒体10之其余制造方法之流 程图; 图14显示于性质评比1,雷射束30记录功率(Pw)与非对 称性间之关系图; 图15显示于性质评比2,雷射束30记录功率(Pw)与非对 称性间之关系图;以及 图16显示于性质评比2,非对称性与错误率间之关系 图。
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