发明名称 可精密调压的测试针座
摘要 一种可精密调压的测试针座,包含有一座体、一调整元件、一置针件及二磁性元件,该座体装设在一测试机台上,并具有一支承部,且该调整元件可活动地设置在该座体上,而该置针件具有一与该座体相枢接之枢接部、一远离该枢接部并供一探针装设之自由端部、一可抵接该座体支承部而受其限位之抵止部及一位于该枢接部一侧并对应该调整元件之施力部,又该等磁性元件分别对应设置于该调整元件与该置针件施力部处,并在常态下使该置针件抵止部抵靠该座体,且藉由该调整元件调整该二磁性元件之间的距离,可改变该探针对一工件的压力。
申请公布号 TW200608023 申请公布日期 2006.03.01
申请号 TW093125152 申请日期 2004.08.20
申请人 惠特科技股份有限公司 发明人 李泔原;徐秋田;赖允晋;陈冠男
分类号 G01R1/06;G01R1/02 主分类号 G01R1/06
代理机构 代理人 恽轶群;陈文郎
主权项
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