发明名称 |
Strukturieren eines magnetischen Tunnelübergang-Elements unter Verwendung von Nassätzen einer freien Schicht und unter Verwendung von Lift-Off-Techniken |
摘要 |
Verfahren zum Strukturieren magnetischer Tunnelübergänge von magnetischen Speichereinrichtungen, wobei die zweite magnetische Schicht oder freie Schicht des Magnetstapels strukturiert werden kann unter Verwendung von Nassätz-Techniken. Eine Abdeckschicht wird gebildet auf der freien Schicht, nachdem die freie Schicht strukturiert wurde. Die Abdeckschicht wird gebildet unter Verwendung von Lift-off-Techniken. Zum Bilden der Abdeckschicht werden Resist-Schichten abgeschieden und strukturiert und Materialschichten werden auf den Resist-Schichten abgeschieden. Teile der Materialschichten, welche sich auf den Resist-Schichten befinden, werden entfernt, wenn der Resist gestrippt wird.
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申请公布号 |
DE102005032979(A1) |
申请公布日期 |
2006.02.16 |
申请号 |
DE200510032979 |
申请日期 |
2005.07.14 |
申请人 |
INFINEON TECHNOLOGIES AG;INTERNATIONAL BUSINESS MACHINES CORP., ARMONK |
发明人 |
LEE, GILL YONG;O'SULLIVAN, EUGENE |
分类号 |
H01L27/22;H01L43/08;H01L43/12 |
主分类号 |
H01L27/22 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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