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发明名称 METHOD OF MAKING TEST SAMPLE FOR TRANSMISSION ELECTRON MICROSCOPE MEASUREMENT
摘要
申请公布号 KR20050119911(A) 申请公布日期 2005.12.22
申请号 KR20040045055 申请日期 2004.06.17
申请人 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. 发明人 LEE, SUN YOUNG;LEE, MYOUNG RACK
分类号 G01N1/28;(IPC1-7):G01N1/28 主分类号 G01N1/28
代理机构 代理人
主权项
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